國產(chǎn)芯片公司宣布好消息 廣東利揚(yáng)完成全球第一顆3nm芯片測試開發(fā)

7月8日消息，廣東利揚(yáng)芯片測試股份有限公司在互動(dòng)平臺表示，公司完成全球第一顆3nm芯片測試開發(fā)。

利揚(yáng)芯片表示，公司近幾年不斷加大在高端芯片領(lǐng)域的測試研發(fā)投入，尤其是公司的算力芯片測試技術(shù)針對先進(jìn)制程的離散性難題提供全套測試解決方案，重點(diǎn)解決了功耗比、芯片內(nèi)阻、大電流測試電路、測試溫度控制等關(guān)鍵技術(shù)難點(diǎn)。

前期已經(jīng)在8nm和5nm芯片產(chǎn)品上為多家客戶提供量產(chǎn)測試服務(wù)，目前3nm先進(jìn)制程工藝的芯片測試方案已調(diào)試成功，標(biāo)志著公司完成全球第一顆3nm芯片的測試開發(fā)，將向量產(chǎn)測試階段有序推進(jìn)。

不過利揚(yáng)芯片并沒有透露這個(gè)3nm芯片是誰家的，他們主要從事芯片測試工作，3nm芯片并非自己設(shè)計(jì)、制造的。

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